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首页-产品展示-工业及半导体检测解决方案-晶圆缺陷光学检测

半导体晶圆缺陷检测/国产晶圆搬运机

SOPTOP AWL 系列半导体晶圆缺陷检测/国产晶圆搬运机是由高精度光学检测显微镜搭载全自动晶圆搬运系统组成,支持4-12寸的晶圆尺寸,可轻松实现多角度、全视野的宏观检查、以及晶圆微观细节的高清捕捉,可对半导体过程工艺中的关键参数、缺陷问题进行有效监控,是晶圆来料检测和工艺控制流程缺陷分析的高效利器。

更新日期:2024-01-31

型号:AWL系列

厂商性质:生产厂家

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